Измерительное оборудование

УНУ “Экстрим”(страница дорабатывается)

Полное наименование установки:Стенд для исследования свойств материалов в экстремальных условиях сверхнизких температур, высоких давлений, сильных электрических и магнитных полей. Сокращенное наименование:Стенд “Экстрим” Общие характеристики:УНУ «Экстрим»[…]

Микроскоп сканирующий зондовый СММ 2000

Описание установки:Микроскоп имеет атомно-силовую и туннельную моды, отличается простотой устройства, малыми размерами и требованиями и возможностью проведения быстрых измерений, имеется два сканера с полями сканирования[…]

Дифрактометр PANalytical XPert PRO

Описание установки:Рентгеновский дифрактометр Panalytical X ’ PERT PRO MRD Extended предназначен для исследования тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок толщиной от нескольких нанометров до[…]

Дифрактометры

Установки и их основные параметры:Дифрактометры ДРОН–2.0, ДРОН–3.0 и двухкристальный спектрометр ДТС–1. Все установки настроены на работу с медным излучением (l=1.54056 Å) с мощностью до 2[…]

Многофункциональная измерительная криомагнитная система CFMS-16

Назначение:измерение транспортных, магнитных и тепловых свойств материалов и наноструктур в диапазоне магнитных полей до 16 Тесла. Год выпуска – 2015 Характеристики:Установка без криогенных жидкостей, с[…]

Фурье-спектрометр Bruker Optics Tensor 27

Описание оборудования/установки: Назначение: Измерение спектров пропускания и отражения в среднем ИК диапазоне (7500-370 см-1, 1.3-27 мкм) Характеристики: Спектральный диапазон, см-1 7500 – 370 Лучше разрешение,[…]

Эллипсометр J.A.Woollam VASE

Назначение:Определение оптических свойств объемных и пленочных образцов металлов, диэлектриков и полупроводников в диапазоне длин волн 193-2500 нм (комплексный показатель преломления, диэлектрическая проницаемость, толщина пленок материалов с[…]

Инфракрасный Фурье-спектрометр высокого разрешения IFS 125 HR

Назначение:Измерение спектров отражения и пропускания в спектральном диапазоне 10-10000 см-1 при  температурах 4-300K. Характеристики: Спектральный диапазон, см-1 (мкм) (Образец Ø 10мм) 104-10 (1-1000) Спектральный диапазон,[…]

Сверхвысоковакуумный низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп UHV-LT STM Unisoku-1300

Назначение:СТМ предназначен для измерения геометрического/потенциального рельефа поверхности материалов и локальных ВАХ в условиях сверхвысокого вакуума, сверхнизких температур и высоких магнитных полей. СТМ обеспечивает (а) загрузку[…]

Авторизация
*
*
Регистрация
*
*
*
Генерация пароля