Рубрика: Измерительное оборудование

Полное наименование установки:Стенд для исследования свойств материалов в экстремальных условиях сверхнизких температур, высоких давлений, сильных электрических и магнитных полей. Сокращенное наименование:Стенд «Экстрим» Общие характеристики:УНУ «Экстрим» занимает площади 140 кв.м. в лабораторном корпусе и около 200 кв.м вспомогательных площадей, на которых Read More …

Описание установки:Микроскоп имеет атомно-силовую и туннельную моды, отличается простотой устройства, малыми размерами и требованиями и возможностью проведения быстрых измерений, имеется два сканера с полями сканирования 40х40 мкм2 и 4х4 мкм2, соответственно. Прибор полностью функционален и активно используется. Реализовано около 20 Read More …

Описание установки:Рентгеновский дифрактометр Panalytical X ’ PERT PRO MRD Extended предназначен для исследования тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок толщиной от нескольких нанометров до нескольких микрон. Система Prefix позволяет менять первичные монохроматоры без дополнительной юстировки в зависимости от конкретных Read More …

Установки и их основные параметры:Дифрактометры ДРОН–2.0, ДРОН–3.0 и двухкристальный спектрометр ДТС–1. Все установки настроены на работу с медным излучением (l=1.54056 Å) с мощностью до 2 кВт каждая. Виды измерений и исследуемые объекты: Рентгенодифракционные исследования монокристаллов и пленок ВТСП материалов. Фазовый Read More …

Назначение:измерение транспортных, магнитных и тепловых свойств материалов и наноструктур в диапазоне магнитных полей до 16 Тесла. Год выпуска — 2015 Характеристики:Установка без криогенных жидкостей, с двумя криоохладителями.Диапазон полей — до 16Т.Диапазон температур:1) 1.6 — 400К с вставкой 4He2) 0.05К-10К с Read More …

Описание оборудования/установки: Назначение: Измерение спектров пропускания и отражения в среднем ИК диапазоне (7500-370 см-1, 1.3-27 мкм) Характеристики: Спектральный диапазон, см-1 7500 — 370 Лучше разрешение, см-1 0.5 (с аподизацией) Точность волнового числа, см-1 0.01 @ 2000 Фотометрическая точность 0.1% T Read More …

Назначение:Определение оптических свойств объемных и пленочных образцов металлов, диэлектриков и полупроводников в диапазоне длин волн 193-2500 нм (комплексный показатель преломления, диэлектрическая проницаемость, толщина пленок материалов с известными оптическими константами) при температурах 4.2-500 K. Эллипсометр позволяет проводить следующие исследования: Эллипсометрия отражения для Read More …

Назначение:Измерение спектров отражения и пропускания в спектральном диапазоне 10-10000 см-1 при  температурах 4-300K. Характеристики: Спектральный диапазон, см-1 (мкм) (Образец Ø 10мм) 104-10 (1-1000) Спектральный диапазон, см-1 (мкм) (Образец Ø 3мм) 104-50 (1-200) Максимальное спектральное разрешение, см-1 0.0063 Разрешающая способность лучше Read More …

Назначение:СТМ предназначен для измерения геометрического/потенциального рельефа поверхности материалов и локальных ВАХ в условиях сверхвысокого вакуума, сверхнизких температур и высоких магнитных полей. СТМ обеспечивает (а) загрузку образцов через шлюзовую камеру с вакуумной откачкой, (б) подготовку образца в высоковакуумной препарационной камере, (в) Read More …

Назначение:Прецизионные измерения магнитных характеристик образцов малых размеров. Характеристики: Диапазон магнитных полей ±7.0 T Однородность поля (на длине 4 cм) 0.01% Стабильность поля 10-6/час Диапазон температур 1.9 — 400 K DC чувствительность (в полях до 250 мТ) 10–8 emu DC чувствительность(в Read More …