Рубрика: Измерительное оборудование

Описание:СЗМ СОЛВЕР P47-PRO — это универсальный прибор для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 С. Характеристики Размер образца 40х40х10мм Сканеры 3х3х1 мкм (±10%)10х10х2 мкм (±10%)50х50х3 мкм (±10%) Read More …

Полное наименование установки:Нанолитограф FEI Helios NanoLab 660. Назначение:Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 660 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком. Характеристики Вакуумная откачка общая Безмасляная, ТМН Read More …

Мощность трубки 600Вт Материал анода Cu Фиксированная щель (на выходной пучок) 1,25°; 0.625° Щель подавления фона (на приемном пучке) 1.25° Приемная щель 0.3мм Радиус гониометра 150мм Диапазон углов сканирования -3° +145° Минимальный шаг 0.01° Разрешение, не хуже 0.01° Детектор сцинтилляционный Read More …

Полное наименование установки:Установка VG Scienta с энергоанализатором R-4000 для измерений фотоэмиссии электронов с разрешением по проекции спина и по значению угла разлета. Назначение:Экспериментальное определение зонной структуры вдоль высокосимметричных направлений кристаллических твердых тел. Характеристики: Разрешение по энергии 17 мэВ Разрешение по Read More …

Полное наименование установки:Установка для измерения спектров квазичастичных возбуждения методом микроконтактной спектроскопии. Сокращенное наименование установки:Break-junction Назначение:Установка предназначена для качественного и количественного изучения щелей в спектрах ВТСП соединений. Характеристики: Интервал температур 1.6К — 300К Разрешение по напряжению 1мкВ Разрешение по току 200нА Read More …

Полное наименование установки: Сканирующий электронный микроскоп JSM-7001F (JEOL) с аналитическими приставками. Назначение:Растровая электронная микроскопия высокого разрешения. Микроструктурный анализ Модель JSM-7001F (JEOL ) представляет собой автоэмиссионный растровый электронный микроскоп, который благодаря использованию в нем электронной пушки с полевой эмиссией (катодом Шотки) Read More …

Полное наименование установки: Рентгеновский дифрактометр Panalytical X’Pert Pro MRD Extended. Описание оборудования/установки:Дифрактометр предназначен для структурных исследований монокристаллов, эпитаксиальных слоев и сверхрешеток на медном излучении (l=1.540598 Å). Он оснащен тремя первичными монохроматорами (параболическое рентгеновское зеркало с расходимостью 150’’, гибридный монохроматор, представляющий Read More …