Описание оборудования/установки:
Назначение: Измерение спектров пропускания и отражения в среднем ИК диапазоне (7500-370 см-1, 1.3-27 мкм)
Характеристики:
| Спектральный диапазон, см-1 | 7500 — 370 |
| Лучше разрешение, см-1 | 0.5 (с аподизацией) |
| Точность волнового числа, см-1 | 0.01 @ 2000 |
| Фотометрическая точность | 0.1% T |
Прибор укомплектован дополнительными приставками:
- Измерение абсолютного значения отражения (для образцов 25-50 мм в поперечнике);
- Измерение отражения с переменным углом падения;
- Измерение абсолютного значения пропускания;
- Измерение пропускания с 3х и 5-кратной фокусировкой;
- Интегрирующая сфера для измерения отражения рассеивающих образцов;
- Приставки одно- и многократного нарушенного полного внутреннего отражения
Основные направления исследований, проводимых с использованием установки:
- Быстрые рутинные измерения спектров отражения и пропускания различных материалов;
- Определение свойств электронной и фононной подсистем: величина щели полупроводника, резонансные частоты фононных колебаний; концентрация, параметры рассеяния носителей заряда, плазменная частота;
- Определение наличия и концентрации различных веществ.
Ответственные лица:
Муратов Андрей Викторович +7(499) 132-67-07; +7(499) 132-69-64; muratovav@lebedev.ru
Алещенко Юрий Анатольевич +7(499) 132-62-32; aleshchenkoya@lebedev.ru