Измерительное оборудование

Рабочий температурный диапазон: 0,3 – 300 К. Варианты вставок Вставка#1 с откачкой 4He Вставка #2 с откачкой 3He Вставка #3* с вращением образцов Вставка #4*[…]

Описание:СЗМ СОЛВЕР P47-PRO – это универсальный прибор для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре[…]

Полное наименование установки:Нанолитограф FEI Helios NanoLab 660. Назначение:Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 660 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и[…]

Мощность трубки 600Вт Материал анода Cu Фиксированная щель (на выходной пучок) 1,25°; 0.625° Щель подавления фона (на приемном пучке) 1.25° Приемная щель 0.3мм Радиус гониометра[…]

Полное наименование установки:Установка VG Scienta с энергоанализатором R-4000 для измерений фотоэмиссии электронов с разрешением по проекции спина и по значению угла разлета. Назначение:Экспериментальное определение зонной[…]

Полное наименование установки:Установка для измерения спектров квазичастичных возбуждения методом микроконтактной спектроскопии. Сокращенное наименование установки:Break-junction Назначение:Установка предназначена для качественного и количественного изучения щелей в спектрах ВТСП[…]

Полное наименование установки: Сканирующий электронный микроскоп JSM-7001F (JEOL) с аналитическими приставками. Назначение:Растровая электронная микроскопия высокого разрешения. Микроструктурный анализ Модель JSM-7001F (JEOL ) представляет собой автоэмиссионный[…]

Полное наименование установки: Рентгеновский дифрактометр Panalytical X’Pert Pro MRD Extended. Описание оборудования/установки:Дифрактометр предназначен для структурных исследований монокристаллов, эпитаксиальных слоев и сверхрешеток на медном излучении (l=1.540598[…]