Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB / Ga+).
Оборудован модулем для электронной литографии, а также микроманипулятором.
- Сотрудники
- Исследования
- Публикации
- Научные группы
- Синтеза материалов
- Низкотемпературной СТМ/СТС
- Топологических изоляторов и Ван-дер-Ваальсовых наноструктур
- Криомагнитных измерений CFMS
- Высоких давлений / сверхсильных полей
- Криомагнитных измерений PPMS
- Фотоэлектронной спектроскопии: ARPES-Lab
- ❄ Сверхнизких температур ❄
- Оптических измерений
- Андреевской спектроскопии сверхпроводников
- Низкотемпературной андреевской спектроскопии
- Изготовления наноструктур
- Плёночные ВТСП
- Биомедицинские материалы
- Направления исследований
- Образование
- Оборудование
- Контактная информация
- Сотрудники
- Исследования
- Публикации
- Научные группы
- Синтеза материалов
- Низкотемпературной СТМ/СТС
- Топологических изоляторов и Ван-дер-Ваальсовых наноструктур
- Криомагнитных измерений CFMS
- Высоких давлений / сверхсильных полей
- Криомагнитных измерений PPMS
- Фотоэлектронной спектроскопии: ARPES-Lab
- ❄ Сверхнизких температур ❄
- Оптических измерений
- Андреевской спектроскопии сверхпроводников
- Низкотемпературной андреевской спектроскопии
- Изготовления наноструктур
- Плёночные ВТСП
- Биомедицинские материалы
- Направления исследований
- Образование
- Оборудование
- Контактная информация
© 2024 Ginzburg Center. Создано бесплатно с использованием WordPress и Kubio