Рубрика: Оборудование

Криомагнитные системы

Криомагнитная система на 16 ТеслаНаходится в стадии отладки.Предназначена для измерения проводимости на постоянном и переменном токе (0.01 Гц — 10 кГц) в диапазоне температур 0.3-300 К, полей до 16 Т. Диаметр отверстия соленоида – 40,5мм. For transport measurements (DC- and Read More …

Криомагнитная система для исследований в магнитных полях до 21 Тесла

Рабочий температурный диапазон: 0,3 — 300 К. Варианты вставок Вставка#1 с откачкой 4He Вставка #2 с откачкой 3He Вставка #3* с вращением образцов Вставка #4* – вибрационный магнетометр Диапазон температур 1.4 — 300К 0.3 — 300К 0.3 — 300К 1.4 Read More …

Сканирующий туннельный микроскоп Solver-Pro NT-MDT

Описание:СЗМ СОЛВЕР P47-PRO — это универсальный прибор для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 С. Характеристики Размер образца 40х40х10мм Сканеры 3х3х1 мкм (±10%)10х10х2 мкм (±10%)50х50х3 мкм (±10%) Read More …

Установка Helios NanoLab 660

Полное наименование установки:Нанолитограф FEI Helios NanoLab 660. Назначение:Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 660 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком. Характеристики Вакуумная откачка общая Безмасляная, ТМН Read More …

Установка плазмохимической очистки

Назначение:Для очистки и обработки поверхности наноструктур в кислородной плазме низкой плотности. Назначение:Для очистки и обработки поверхности наноструктур в кислородной плазме низкой плотности. Назначение:Для очистки и обработки поверхности наноструктур в кислородной плазме низкой плотности.