Фотоэмиссионная спектроскопия (ARPES)

Лаборатория фотоэмиссионной спектроскопии (ARPES)

Электронная зонная структура определяет электронные и оптические свойства твердых тел. Исследование зонной структуры имеет важное значение для понимания фундаментальных физических явлений, лежащих в основе сверхпроводников, низкоразмерных структур, топологических материалов и др., а также полезно для практического применения, например, при создании элементов для электроники и спинтроники, квантового компьютера. Одним из ключевых методов экспериментального изучения зонной структуры является фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением ФЭСУР (англ. ARPES).

Основной задачей нашей лаборатории является экспериментальное исследование методом ARPES зонной структуры широкого класса сверхпроводников и квантовых материалов. Исследование проводится на установке ARPES с гелиевой лампой в качестве источника фотонов (энергии фотонов 21.2 эВ и 40.8 эВ).  Большое внимание уделяется подготовке и исследованию поверхности образцов. Система ARPES оснащена инструментарием для подготовки поверхности к ARPES измерениям, а также блоком ДМЭ/Оже-спектроскопии. Методом дифракции медленных электронов ДМЭ (англ. LEED) определяется структура поверхности материалов. С помощью Оже-спектроскопии возможно установить элементный состава поверхностных слоев.

Состояние поверхности также важно для структур, создаваемых из исследуемых материалов. Например,  наблюдаемый в узких и тонких сверхпроводящих мостиках диодный эффект чувствителен к состоянию их поверхности. Опыт группы при работе с поверхностями материалов позволяет создавать аналитические модели, устанавливающие взаимосвязь между диодным эффектом и физическими свойствами поверхности.

Рефлексы LEED топологического изолятора Bi1.08Sn0.02Sb0.9Te2S (BSSTS) (слева) и ориентированной меди (111) (справа)
Оже-спектр меди
Установка для ARPES измерений

Текущие исследования и перспективы

1. Ведутся исследования перспективного для спинтроники топологического изолятора Bi1.08Sn0.02Sb0.9Te2S (BSSTS). Изучается, как допирование ванадием влияет на его свойства. В настоящее время проводятся детальные исследования поверхности данного материала. Это необходимо как для подготовки его к ARPES измерениям, так и на перспективу для разработки технических процессов работы с его поверхностью. В дальнейшем планируется изучение зонной структуры данного соединения методом ARPES и влияния на нее допирования ванадием.

2. Изучается поверхность железосодержащего сверхпроводника Ba (Fe, Ni)2As2 (BFNA). Исследования зонной структуры данного сверхпроводника методом ARPES  немногочисленны. Это обусловлено сложностью работы с поверхностью данного материала: ее двойникованием, образованием на ней сверхрешеток Ba. Планируется разработка методов восстановления поверхности BFNA для  ARPES измерений. В дальнейшем планируется детальное изучение зонной структуры и поверхности Ферми данного соединения. Перспектива данных исследований обусловлена тем, что предполагаемые механизмы сверхпроводимости в данном  высокотемпературном сверхпроводнике опираются на вид его зонной структуры и поверхности Ферми.

3. Развиваются аналитические модели для описания диодного эффекта в структурах из сверхпроводников. На перспективу это позволит проектировать сверхпроводящие  диоды, работающие при низких температурах, где полупроводниковые диоды теряют свою эффективность. Это необходимо, в том числе, для создания квантовых компьютеров.

Основные результаты

1. Методом ARPES исследована зонная структура и поверхность Ферми бинарного соединения SnAs. Данное соединение является сверхпроводником и родительским для материалов с уникальными свойствами (NaSn2As2; SrSn2As2; EuSn2As2). По итогам исследования методом ARPES проверены теоретические предсказания о виде зонной структуры и поверхности Ферми арсенида олова. Это позволило подтвердить оценки,  показывающие, что SnAs является сверхпроводником I рода. На экспериментальных спектрах была обнаружена особенность, которая, согласно зонным расчетам, возникает из-за из спин-орбитального взаимодействия. Также была исследована зонная структура родственных материалов.
2. Разработана аналитическая модель для анализа диодного эффекта в узком и тонком сверхпроводящем мостике. Показано, как разупорядоченность слоев на поверхности и границе раздела подложка/сверхпроводящий слой влияют на диодные характеристики данной структуры.
Схема эксперимента ARPES (сверху) и фрагмент поверхности Ферми сверхпроводника SnAs (снизу)

Состав группы

Безотосный Павел
Игоревич

Руководитель группы | вк.н.с, к.ф.-м.н.

Чупраков Максим
Евгеньевич

студент МФТИ

Кузьмин Владимир
Владимирович

студент МИЭМ (НИУ ВШЭ))

Публикации
Авторизация
*
*
Регистрация
*
*
*
Генерация пароля