Инфракрасный Фурье-спектрометр высокого разрешения IFS 125 HR

Назначение:
Измерение спектров отражения и пропускания в спектральном диапазоне 10-10000 см-1 при  температурах 4-300K.

Характеристики:

Спектральный диапазон, см-1 (мкм) (Образец Ø 10мм)104-10 (1-1000)
Спектральный диапазон, см-1 (мкм) (Образец Ø 3мм)104-50 (1-200)
Максимальное спектральное разрешение, см-10.0063
Разрешающая способностьлучше 106
Абсолютная точность определения волнового числа:±5∙10-7∙ (абсолютное значение волнового числа)
Относительная точность определения волнового числа:±1∙10-7
Фотометрическая точность0.1% пропускания
Скорость сканирования, см/с0.16-2.5
Отношение сигнал/шум (peak-to-peak) при регистрации спектров поглощения, время накопления 5 с (разрешение 1 см -1), не менее1000

Прибор может быть укомплектован различными дополнительными приставками (несовместимы с криостатом):

  • Измерение абсолютного значения отражения
  • Измерение отражения с переменным углом падения
  • Измерение абсолютного значения пропускания
  • Измерение пропускания с 3х и 5-кратной фокусировкой
  • Интегрирующая сфера для измерения отражения рассеивающих образцов
  • Приставки одно- и многократного нарушенного полного внутреннего отражения.

Для низкотемпературных измерений спектрометр оборудован криостатом CryoVac KONTI Spectro A.

В криостате предусмотрена испарительная ячейка для напыления золота на образец (методика in situ Gold Evaporation) для высокоточных измерений спектров отражения незеркалых образцов

Диапазон рабочих температур4.2 – 325К
Точность стабилизации температуры в диапазоне 4.2-100К±0.25К
Точность стабилизации температуры в диапазоне 100-325К±0.5К
Рабочий вакуум10-5 мбар
Диаметр окон (4 х 90º)40 мм
Диаметр свободной апертуры26 мм
Диаметр устанавливаемых образцовот 2 до 13 мм
Диапазон перемещения образца по высоте (ось Z)50 мм
Диапазон перемещения образца по координатам X/Y±6 мм

Для измерения микрообразцов спектрометр оборудован инфракрасным микроскопом Bruker Optics HYPERION 2000 с возможностью установки криостата.

Спектральный диапазон500 — 7,500 см-1
Оптимальная область измерения250 мкм
Минимальная область измерения20 мкм
Точность настройки положения  в точке измерения± 1мкм
Диапазон температур15-300 К

Основные направления исследований, проводимых с использованием установки:

  • Измерение широкодиапазонных спектров отражения и пропускания;
  • Определение широкодиапазонных спектров диэлектрической проницаемости и проводимости (совместно с результатами эллипсометрии);
  • Определение свойств электронной и фононной подсистем исследуемого материала: величина щели полупроводника; резонансные частоты фононных колебаний; концентрация, параметры рассеяния носителей заряда, плазменная частота;
  • Определение количества, величины и температурной зависимости сверхпроводящей щели и глубины проникновения магнитного поля для сверхпроводиников.

Ответственные лица:
Муратов Андрей Викторович +7(499) 132-67-07; +7(499) 132-69-64; muratovav@lebedev.ru
Алещенко Юрий Анатольевич +7(499) 132-62-32; aleshchenkoya@lebedev.ru